Industrial Testing
采用X射线荧光法测厚，并结合SEM-EDS完成镀层成分分析。
采用涡流原理快速无损测定非磁性基体上的非导电覆盖层厚度。
通过金相试样横截面显微测量镀层厚度，直观准确，适用于各种覆盖层。
采用库仑电解法测定金属覆盖层厚度，适用于多层镀层的逐层测定。
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